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XPF-770透反射偏光顯微鏡采用*UCIS無窮遠(yuǎn)色差獨(dú)立校正光學(xué)系統(tǒng)，是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關(guān)高等院校的專業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器。 隨著光學(xué)技術(shù)的不斷進(jìn)步，偏光顯微鏡的應(yīng)用范圍也越來越廣闊，可廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、化工、醫(yī)療、藥品等領(lǐng)域的研究與檢驗(yàn)，也可進(jìn)行液態(tài)高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相觀察，是科研機(jī)構(gòu)與高等院校進(jìn)行研究與教學(xué)的理想儀器。
聯(lián)系人：李寧
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